透射電鏡雙傾探針電學原位系統

                        簡要描述:透射電鏡雙傾探針電學原位系統通過納米探針對樣品施加電場控制,結合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多種不同模式,實現從納米層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨電場變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的結構和成分演化等關鍵信息。

                        • 產品型號:
                        • 廠商性質:生產廠家
                        • 更新時間:2023-12-27
                        • 訪  問  量: 1507

                        詳細介紹

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                        我們的優勢

                        納米探針操縱系統

                        1.高精度壓電陶瓷驅動,納米級別精度數字化精確定位。

                        2.可對單個納米結構進行操縱和電學測量。


                        優異的電學性能

                        特殊設計保證電學測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達皮安級。


                        智能化軟件

                        1.人機分離,軟件遠程調節電學條件,程序自動化控制傾轉角度。

                        2.全程自動記錄實驗細節數據,便于總結與回顧。




                        技術參數

                        類別項目參數
                        基本參數桿體材質高強度鈦合金
                        控制方式高精度壓電陶瓷
                        傾轉角α≥±20°,β≥±20°(實際范圍取決于透射電鏡和極靴型號)
                        適用電鏡Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
                        適用極靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
                        (HR)TEM/STEM支持
                        (HR)EDS/EELS/SAED支持



























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